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SXJS-IV介损测试仪*

描述:SXJS-IV介损测试仪*,是一种测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-01-31
  • 访问量:899
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

SXJS-IV介损测试仪*,是一种测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。

技术指标 :

1、环境:-5℃~40℃(液晶屏应避免长时间日照) 
2、相对湿度:30%~70% 
3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz 
4、外形尺寸:长*宽*高=500mm*300mm*400mm 
5、重量:28kg 
6、输出功率:1.5KVA 
7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位) 
8、测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围:内接试验电压:≤60000PF(10KV电压大于30000PF)
外接试验电压:由外接试验变压器输出功率而定 
10、基本测量误差: 
介质损耗(tgδ):1%±0.04% 
电容容量(Cx):1%±1pF

工作原理 :
标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。
数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。
仪器高压器的高压侧和测量线路都是浮地的,用户可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接地方式。如采用“正接线法”进行测量时,可将“E”点接地;而当采用“反接法”进行测量时,可将“UH”点接地,而将E点浮空。 
图中除测试品CX外,其余为本仪器。细线框内部分对仪器外壳随15KV工频高压5分钟,额定耐压10KV。仪器内附标准电容CN,名义值为50PF,tgδ≤0.0001,耐压10KV。高压变压器,额定输出功率为1.5KVA。 
“E”点为仪器内`屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连,不是大地,与仪器外壳也不连通!

仪器成套性 :
(1)SXJS-IV介损测试仪*                     1台 
(2)测试线缆                                               1套
(3)保险丝(15A)                                            4只 
(0.5A)                                                                     2只
(4)电源线                                                          1根 
(5)使用说明书                                                  1份
(6) 产品合格证                                                      1份

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